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半導體特性曲線儀iv+cv測試機
半導體特性曲線儀iv+cv測試機具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/12/5 9:13:38
對比
半導體參數分析儀電學特性測試系統CV+IV測試儀半導體參數分析儀國產半導體參數測試分析儀
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大功率分立器件半自動測試儀
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/11/29 9:44:38
對比
功率器件分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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寬量程半導體分析測試儀
SPA-6100寬量程半導體分析測試儀可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,...
型號: SPA-6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/11/26 9:20:00
對比
半導體參數分析儀半導體器件測試iv+cv測試國產半導體參數分析儀半導體器件參數測試儀
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SiC GaN三代半功率器件參數分析儀
SiC功率半導體因優勢成行業熱點,但面臨復雜應力挑戰。性能表征測試分靜態和動態,要求高。普賽斯提供一站式高精密測試解決方案,滿足行業高精度、大范圍測試需求,具有...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/11/15 10:33:39
對比
功率器件測試設備三代半參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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柔性傳感器電性能測試源表IV曲線掃描
柔性傳感器電性能測試源表IV曲線掃描可以模擬扭、轉、彎、折、卷等5種基本測試動作, 11個基礎模擬測試動作,實現一機多用,讓柔性測試標準化。不僅可以測試柔性材料...
型號: S300
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/11/7 10:17:55
對比
源測單元柔性傳感器特性測試IV曲線測試掃描國產源測單元數字源表電流模塊
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半導體器件參數測試儀iv+cv曲線分析
半導體器件參數測試儀iv+cv曲線分析可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/10/29 9:22:13
對比
半導體參數分析儀半導體測試iv+cv曲線測試國產半導體參數分析儀半導體器件參數測試分析儀
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IGBT|SiC功率半導體器件測試設備
IGBT|SiC功率半導體器件測試設備是武漢普賽斯正向設計、精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統,是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統,具...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/10/24 9:41:07
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半導體器件功率分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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igbt靜態性能測試設備
武漢普賽斯儀表igbt靜態性能測試設備是一款能夠提供IV、 CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統,具有高精度、寬測量范圍、模塊化設計、輕松升級擴展等優勢,旨在全面...
型號: PMST-2200...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/10/11 9:45:31
對比
半導體器件功率分析儀igbt靜態性能測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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wat半導體參數測試設備
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/10/9 9:28:39
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功率器件測試設備wat參數測試設備IV曲線掃描國產功率器件測試系統半導體參數測試設備
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功率半導體參數測試設備+分析儀器
近年來IGBT成為電力電子領域中尤為矚目的電力電子器件,并得到越來越廣泛的應用,那么IGBT的測試就變的尤為重要了。lGBT的測試包括靜態參數測試、動態參數測試...
型號: PMST-2200...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/8/26 9:40:37
對比
半導體器件功率分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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SiC|IGBT功率器件測試儀and參數分析儀
近年來IGBT成為電力電子領域中尤為矚目的電力電子器件,并得到越來越廣泛的應用,那么IGBT的測試就變的尤為重要了。lGBT的測試包括靜態參數測試、動態參數測試...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/8/22 14:43:25
對比
半導體器件功率分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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SiC功率半導體器件測試系統
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/8/9 13:22:32
對比
半導體器件功率分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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半導體曲線圖示儀iv+cv測試儀
SPA-6100半導體曲線圖示儀iv+cv測試儀可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/8/8 9:40:21
對比
半導體參數分析儀電學特性測試系統CV+IV測試儀半導體參數分析儀半導體參數測試分析儀
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大功率分立器件測試設備
PMST系列大功率分立器件測試設備是武漢普賽斯正向設計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統,是一致能夠提供IV,CV、跨導等豐富功能的綜合測試系統,具有高精...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/26 9:43:07
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功率器件分析儀分立器件參數測試靜態參數測試系統國產功率器件測試系統分立器件靜態參數測試設備
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霍爾傳感器測試方案霍爾延時響應測試設備
霍爾傳感器測試方案霍爾延時響應測試設備集多種測量和分析功能一體,可精準測量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態與動態參數,單臺大電流源...
型號: CTMS1000A
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/19 13:29:16
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電流傳感器測試系統電流傳感器動靜態測試靜態與動態參數測試電流傳感器參數測試電流傳感器測試平臺
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igbt靜態測試臺+功率器件測試系統
igbt靜態測試臺+功率器件測試系統集多種測量和分析功能一體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/17 13:21:22
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大功率器件測試儀器IGBT靜態參數測試靜態參數測試系統國產功率器件測試系統igbt靜態參數測試平臺
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半導體靜態參數測試儀+功率器件測試設備
半導體靜態參數測試儀+功率器件測試設備集多種測量和分析功能一體,可以精準測量功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、納安級電流測量能力...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/15 13:43:14
對比
半導體器件功率分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試設備國產功率器件測試系統半導體分立器件靜態參數測試系統
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大功率器件測試儀器+功率半導體參數分析儀
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備,產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
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¥1000更新時間:2024/7/11 9:20:31
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功率器件分析儀大功率器件測試靜態參數測試儀國產功率器件測試系統功率半導體器件靜態測試設備
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功率器件靜態測試儀igbt測試設備
PMST系列功率器件靜態測試儀igbt測試設備是武漢普賽斯正向設計,精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統,是一致能夠提供IV,CV、跨導等豐富功能的綜合測試系...
型號: PMST-3500...
所在地:武漢市
參考價:
¥1000更新時間:2024/7/9 10:01:44
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功率器件分析儀功率器件靜態參數測試靜態參數測試系統國產功率器件測試系統高電壓大電流靜態測試系統
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半導體電學參數測試設備iv+cv測試分析儀
SPA-6100半導體電學參數測試設備iv+cv測試分析儀可以幫助用戶根據測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA...
型號: SPA6100
所在地:武漢市
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¥1000更新時間:2024/7/8 9:23:48
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半導體參數分析儀電學特性測試系統CV+IV測試儀半導體參數分析儀半導體參數測試分析儀